八十年代初我國發(fā)布實(shí)施的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)一覽表

（合計(jì)22項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，包括總則和名詞術(shù)語）

GB2421—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　總則

GB2422—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　名詞術(shù)語

GB2423.1—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB2423.3—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.4—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.5—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ea：沖擊試驗(yàn)方法

GB2423.6—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Eb：碰撞試驗(yàn)方法

GB2423.7—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ec：傾跌與翻倒試驗(yàn)方法

GB2423.8—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ed：自由跌落試驗(yàn)方法

GB2423.10—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)方法

GB2423.15—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ga：恒加速度試驗(yàn)方法

GB2423.16—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法

GB2423.17—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法

GB2423.19—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法

GB2423.20—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法

GB2423.21—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法

GB2423.22—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.24—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射試驗(yàn)方法

GB2423.25—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法

GB2423.26—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法

GB2423.27—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法

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